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高加速老化试验箱
设备名称:高加速老化试验箱
产品型号:PC-422R8
设备标准:JESD22-A110D
适用对象:半导体封装产品
测试量级:ΔT=±0.5℃ Δ=±1% ΔV=±0.1V
T: 100℃-150℃ 55-100%
Bias Vmax=600V